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43ELECTRONICA y servicio No. 63

a) Resistencias fusibles. Cada vez que esté

dañada la resistencia fusible, verifique

las condiciones del capacitor C613 y sus

elementos asociados, en el lado de la

línea de CA.

b) Diodo de alta velocidad. Si el diodo D610

se encuentra dañado (abierto), afectará

al circuito integrado STR-F6500; gene-

rará en él una gran corriente interna.

c) Capacitores de retardo. Si han sufrido

daños los capacitores que están en pa-

ralelo con la bobina primaria del trans-

formador (C617 y C616), harán que se

sobrecaliente –y por lo tanto que se

dañe– el circuito integrado. Estos capa-

citores amortiguan oscilaciones transi-

torias que se presentan cuando el tele-

visor es apagado.

d) Diodo de retardo. Al igual que en el caso

de los capacitores, si el diodo de retar-

do D609 está dañado provocará que se

dañe el circuito integrado.

2. Sistema de encendido

y de comunicaciones

Para que el representante técnico pueda

diagnosticar averías en el sistema de con-

trol (que incluye al microprocesador, circui-

to EEPROM y circuitos asociados), debe

conocer el comportamiento secuencial del

sistema de encendido y de comunicaciones

(figura 3).

Una vez que se da la orden de encendi-

do, en este sistema ocurren los siguientes

eventos:

• Se desmagnetiza el cinescopio.

• Se aplica voltaje de alimentación al cir-

cuito jungla.

Memoria

IC1003

Standby

5v

Power

on

Bus de datos

Sistema de control

IC1001

Circuitería de la

bobina degauss

Bobina desmagnetizadora

S Data

VP/VTIM

Jungla Y/C

IC1301

Switch/

Reg. 9v

Sistema de encendido y de comunicaciones

DOC

DOC

2

1

C648

DGC

Transistores

DRIVE

DGC Relay

7.5v

F601

VDR601

T602

Sistema

de control

O-Relay

IC001

AC Power relay

Bobina

desmagnetizadora

Cricuito de la bobina desmagnetizadora

Figura 3

Figura 4

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